О компании | Контакты |
Настольные микроскопы для оптических коннекторов серии FVA и FVD
(0,94 Мб)Описание микроскопа FVD (ENG)
Микроскоп серии FVD – это цифровой микроскоп для исследования качества полировки и качества скола оптических коннекторов. Микроскоп выполнен в настольном исполнении, что идеально подходит для использования в лабораториях или на производстве.
Микроскоп FVD, совместно с программным обеспечением FiberChekPRO (поставляется в комплекте), является мощным инструментом для определения качества полировки оптических разъемов в автоматическом режиме, что исключает субъективную ошибку оператора отвечающего за технический контроль. Микроскоп сам определяет наличие царапин и степень их критичности с выдачей оценки пригоден или нет разъем для эксплуатации на сетях ВОЛС. Параллельно с автоматической оценкой, на экране ПК оператор может сам оценить степень загрязнения, составить отчет с коментариями.
Микроскоп FVD подключается и получает питание через порт USB 2.0 персонального компьютера.
Применение:
- исследование и анализ качества полировки оптических разъемов на производстве,
- захват и анализ изображения поверхности ферулы оптического разъема с автоматической оценкой «Тест прошел» или «Тест не прошел» по ранее выставленным критериям,
- стандартизированный процесс проверки качества разъема, исключающий человеческие ошибки.
Ключевые возможности:
- автоматическое определение приемлемости использования оптического разъема на линиях ВОЛС,
- обеспечивает стабильные результаты исключая человеческие ошибки при осмотре и сортировке оптических разъемов,
- идентифицирует и характеризует дефекты и частицы грязи определяя их положение относительно сердцевины волокна,
- создание и архивация отчетов с результатами измерений и изображениями в HTML и PDF форматах,
- прямое подключение к персональному компьютеру или ноутбуку через порт USB 2.0,
- обеспечивает яркую и четкую картинку за счет коаксиальной подсветки и камеры высокого разрешения,
- математический аппарат программного обеспечения FiberChekPRO, автоматически оценивающий качество полировки и степень загрязнения поверхности ферулы, разработан в соответствии со стандартами и требованиями Электротехнической Комиссии (IEC) к оптическим разъемам.
Доступные опции
FVD
Серия настольных микроскопов для оптических коннекторов
Авторские права © 2010-2024. EN4TEL™ Москва и Санкт-петербург. Все права защищены.
Использование материалов открытых разделов данного сайта
разрешается только с письменного разрешения правообладателя.
Сайт разработан в студии Артодром